Agilent Technologies Inc. ha presentado su modo de microscopía electroquímica de barrido (SECM) habilitado para microscopía de fuerza atómica (AFM), un paquete de tecnología perfectamente integrado con el que los científicos pueden realizar microscopía electroquímica de barrido en muestras conductoras y aislantes. El sistema utiliza un microscopio de fuerza atómica de Agilent.
 
Este exclusivo modo de funcionamiento de AFM permite realizar microscopía electroquímica de barrido de forma rápida y fiable con resolución a escala nanométrica. Agilent ha diseñado el modo SECM para ofrecer el máximo rendimiento y una gran sencillez de uso. Ya no será necesario dedicar largas horas a la configuración, por lo que se pueden recabar datos de inmediato.
 
El nuevo modo SECM es la más reciente de las numerosas innovaciones de Agilent en electroquímica asociada a la AFM y resulta de gran utilidad para un amplio abanico de aplicaciones. Entre esas aplicaciones se incluyen investigaciones de reacciones de transferencia de electrones homogéneas y heterogéneas, obtención de imágenes de procesos con actividad biológica, modificación de superficies, análisis de películas finas (por ejemplo, detección de orificios, conformalidad), barrido de materiales catalíticos (por ejemplo, catalizadores de pilas de combustible) y estudios de procesos corrosivos.
 
La tecnología del modo SECM de Agilent se basa en el innovador EC SmartCart, un cartucho fácil de manipular que combina un nanoelectrodo con una punta de AFM montada de fábrica. Las sondas EC SmartCart para los microscopios de fuerza atómica de Agilent se entregan probadas de fábrica y listas para realizar barridos. El cartucho se coloca en una punta cónica personalizada para el barrido. Las sondas bifuncionales se producen utilizando técnicas de microfabricación muy contrastadas y garantizan una distancia constante y controlada entre el electrodo integrado en la punta y la superficie de muestreo, lo que mejora enormemente las prestaciones.
 
Las sondas EC SmartCart de Agilent permiten obtener imágenes topográficas de alta resolución y, al mismo tiempo, emitir la información electroquímica a través del electrodo integrado en la sonda de AFM. Estas sondas son las únicas que ofrecen a los investigadores información de estructura-actividad sincronizada característica. El modo SECM también ofrece a los científicos capacidades de investigación in situ líderes en el sector. Permite obtener un mayor control sobre los experimentos gracias a una cámara climática de tecnología punta y placas de muestreo especiales diseñadas específicamente para aplicaciones de electroquímica, así como una nueva caja de guantes con doble cámara que se instala en una cámara de aislamiento acústico.
 
Además, un potenciostato integrado proporciona a los investigadores diferentes ajustes de sensibilidad que abarcan cuatro órdenes de magnitud de corriente. El completo software PicoView de Agilent aporta mayor flexibilidad y control a los experimentos, e incluye funciones para experimentos de cronoamperometría y voltametría de pulsos diferenciales, entre otras. Tanto si se utiliza en un entorno académico como en una instalación industrial, el nuevo modo SECM de Agilent puede llevar la visibilidad de las investigaciones de electroquímica a la escala nanométrica.
 
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